[한국기술뉴스] 연세대학교 기계공학과 전성찬 교수 연구팀은 고주파를 이용해 암을 진단하는 비침습 병변 진단 장치를 개발했다. 개발된 기술은 연세대학교 산학협력단을 통해 2017년 04월 28일 특허를 출원(출원번호 제1020170055310호)했다. 특허 명칭은 '고주파 및 미분간섭을 활용한 병변 진단 장치’이다. 현재 특허 등록이 완료돼 산업에서 기술을 활용할 수 있도록 기술이전을 추진할 계획이다.

[기자]

암을 진단하기 위해서는 영상의학적 기법과 병리학적 기법 등 여러 검사를 복합적으로 진행해야 합니다. 일반적으로 MRI, CT, 초음파 검사 등을 이용하는 영상의학적 기법은 검사가 간편하지만 검사 비용이 많이 들고, 뼈로 둘러싸인 장기나 뼈조직에 대한 분석이 불가능하다는 단점이 존재합니다. 다른 방법으로 병리학적 기법은 암 조직을 정확하게 관찰하여 병을 진단할 수 있지만 피부를 절개하고 체내의 조직을 떼어내서 얻어야 한다는 어려움이 있습니다.

연세대학교 전성찬 교수 연구팀은 고주파를 이용해 비침습적인 방법으로 세포 및 조직 구조를 정량적으로 분석할 수 있는 병변 진단 장치를 발명했습니다.

본 발명의 장치의 헤드 부분에는 주파수 분석용 패드가 설치되어 있습니다. 패드를 환자의 피부에 가져다 대면 체내 조직에 고주파 신호를 전달합니다. 장치 내부에는 광섬유가 설치되어 체내 조직에서 반사되거나 투과된 고주파 신호를 광학 이미지로 변환하여 조직 형상을 디스플레이에 송출합니다. 즉, 디스플레이를 통해 체내 조직에서 병변의 위치와 형상을 실시간으로 파악할 수 있습니다.

본 발명의 장치를 활용하면 비침습적인 방법으로 체내 정상 조직과 비정상 조직을 구분할 수 있어 검사가 간편하며 접근성이 좋습니다. 또한 하나의 장치를 통해 종합적인 정보를 얻을 수 있어 복수의 검사를 대체할 수 있습니다. 이를 통해 암 진단에 드는 시간과 비용을 줄이고 암을 조기 진단하여 암 환자의 생존률을 늘릴 수 있을 것으로 기대됩니다.